NF G06-006-12-2010 纺织品.定量化学分析.第12部分:丙烯酸,确定改良丙烯酸,确定聚氯乙烯系纤维,确定弹性烷及确定其它纤维的混合(二甲基甲酰胺法)

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【英文标准名称】:Textiles-Quantitativechemicalanalysis-Part12:mixturesofacrylic,certainmodacrylics,certainchlorofibres,certainelastanesandcertainotherfibres(methodusingdimethylformamide).
【原文标准名称】:纺织品.定量化学分析.第12部分:丙烯酸,确定改良丙烯酸,确定聚氯乙烯系纤维,确定弹性烷及确定其它纤维的混合(二甲基甲酰胺法)
【标准号】:NFG06-006-12-2010
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2010-12-01
【实施或试行日期】:2010-12-24
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:乙酸酯;丙酮;聚丙烯腈纤维;丙烯酸类树脂;分析;醋酸纤维素纤维;纤维素纤维;化学分析和测试;氯化物;聚氯乙烯系纤维;棉花;铜氨纤维;含量测定;二甲基甲酰胺;纤维混纺织品;纤维;甲酸;玻璃纤维;二氯甲烷;混合物;改良丙烯酸纤维;高温模量粘胶纤维;潮气;塑料;聚酰胺纤维;聚酰胺;聚酯纤维;聚酯;准备;性能;定量分析;再生纤维素纤维;样品;分离;蚕丝;试验;织物纤维混纺;纺织纤维;纺织试验;纺织材料;三醋酸盐;三醋酸纤维;粘胶纤维;羊毛
【英文主题词】:Acetates;Acetone;Acrylicfibres;Acrylicresins;Analysis;Celluloseacetatefibres;Cellulosefibres;Chemicalanalysisandtesting;Chlorides;Chlorofibres;Cotton;Cupro;Determinationofcontent;Dimethylformamide;Fibremixtures;Fibres;Formicacid;Glassfibres;Methylenedichloride;Mixtures;Modacrylicfibres;Modal;Moisture;Plastics;Polyamidefibres;Polyamides;Polyesterfibres;Polyesters;Preparation;Properties;Quantitativeanalysis;Regeneratedcellulosefibres;Samples;Separation;Silk;Testing;Textilefibreblends;Textilefibres;Textiletesting;Textiles;Triacetate;Triacetatefibres;Viscose;Wool
【摘要】:
【中国标准分类号】:W55
【国际标准分类号】:59_060_20
【页数】:11P;A4
【正文语种】:其他


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【英文标准名称】:Thymolphthalein
【原文标准名称】:百里酚酞
【标准号】:JISK8642-1992
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1992-08-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonChemicalAnalysis
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:化学试剂;百里酚酞
【英文主题词】:
【摘要】:この規格は試薬として用いるチモールフタレインについて規定する。
【中国标准分类号】:G17
【国际标准分类号】:71_040_30
【页数】:2P;A4
【正文语种】:日语


基本信息
标准名称:硅抛光片表面平整度测试方法
英文名称:Test methods for surface flatness of silicon polished slices
中标分类: 冶金 >> 金属理化性能试验方法 >> 金属物理性能试验方法
ICS分类:
替代情况:GB 6621-1986;被GB/T 6621-2009代替
发布部门:国家技术监督局
发布日期:1995-04-18
实施日期:1995-01-02
首发日期:1986-07-26
作废日期:2010-06-01
主管部门:国家标准化管理委员会
归口单位:全国半导体材料和设备标准化技术委员会
起草单位:电子部标准化所
出版社:中国标准出版社
出版日期:1900-01-01
页数:平装16开, 页数:11, 字数:21千字
适用范围

本标准规定了用相干光的干涉现象测量硅抛光片表面平整度的方法。本标准适用于检测硅抛光片的表面平整度,也适用于检测硅外延片和类镜面状半导体晶片的表面平整度。

前言

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目录

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引用标准

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所属分类: 冶金 金属理化性能试验方法 金属物理性能试验方法