NF X21-062-2008 表面化学分析.溅射深度剖析.层状膜系作为参考物质的优化方法
作者:标准资料网
时间:2024-05-16 00:49:34
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【英文标准名称】:Surfacechemicalanalysis-Sputterdepthprofiling-Optimizationusinglayeredsystemsasreferencematerials.
【原文标准名称】:表面化学分析.溅射深度剖析.层状膜系作为参考物质的优化方法
【标准号】:NFX21-062-2008
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2008-04-01
【实施或试行日期】:2008-04-05
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:雾化;化学分析和试验;定义;深度剖面;含量测定;电子光谱法;精整;离子束;层;最优化;参考材料;X射线光度法
【英文主题词】:Atomization;Chemicalanalysisandtesting;Definition;Definitions;Depthprofile;Determinationofcontent;Electronspectroscopy;Finishes;Ionbeams;Layers;Optimization;Referencematerials;X-rayspectrometry
【摘要】:
【中国标准分类号】:A43
【国际标准分类号】:71_040_40
【页数】:23P;A4
【正文语种】:其他
【原文标准名称】:表面化学分析.溅射深度剖析.层状膜系作为参考物质的优化方法
【标准号】:NFX21-062-2008
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2008-04-01
【实施或试行日期】:2008-04-05
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:雾化;化学分析和试验;定义;深度剖面;含量测定;电子光谱法;精整;离子束;层;最优化;参考材料;X射线光度法
【英文主题词】:Atomization;Chemicalanalysisandtesting;Definition;Definitions;Depthprofile;Determinationofcontent;Electronspectroscopy;Finishes;Ionbeams;Layers;Optimization;Referencematerials;X-rayspectrometry
【摘要】:
【中国标准分类号】:A43
【国际标准分类号】:71_040_40
【页数】:23P;A4
【正文语种】:其他
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